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2次イオン質量分析装置
Secondary ion mass spectrometers (SIMS)

SIMSの原理・特徴

  • 検出濃度範囲が広く、マトリックス元素から極微量(ppb)まで分析が可能
  • 全元素の検出が可能: H through U
  • 同位体の測定が可能
  • 深さ方向分析、面分析

装置外観

CAMECA Model - IMS 7f

装置の仕様と性能


雰囲気遮断試料導入機構(「コモンゲートシステム」)

摘出した試料を大気に曝すことなく、SIMSで分析が可能です。(酸素・水分による劣化・変質の防止)
「コモンゲートシステム」により、遠隔地において調整された試料を大気暴露せずにSIMSをはじめとする本拠点における各装置における分析ができます。


運用について

設置場所:
工学研究科 総合研究棟B-02室(技術部 合同計測分析室)

注意事項:
現在、生体サンプルの測定は受け付けておりません。
利用料金について*
1試料(学内・税抜) 基本料 3,000円 + 5,000円/時間 (前処理費別途:1,500円/試料)
1試料(学外・税抜) 40,000円

* テクニカルサポートセンターにおける算出(時間換算による利用基準:5,547円(学内)、8,394円(学外)に基づく測定料金です。)